X-RAY-DIFFRACTOMETRY INSITU OF EVAPORATED THIN-FILMS - APPLICATION TO AMORPHOUS TELLURIUM

被引：7

作者：

MALAURENT, JC ^{[1
]}

DIXMIER, J ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV PARIS 11,PHYS SOLIDES LAB,F-91405 ORSAY,FRANCE

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0040-6090(76)90074-2

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：L1 / L4

页数：4

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共 6 条

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