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TEST BEAM STUDIES OF A SILICON MICROSTRIP VERTEX DETECTOR
被引:8
作者
:
KARCHIN, PE
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0
机构:
FERMILAB,BATAVIA,IL
KARCHIN, PE
HALE, DL
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FERMILAB,BATAVIA,IL
HALE, DL
MORRISON, RJ
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机构:
FERMILAB,BATAVIA,IL
MORRISON, RJ
WITHERELL, MS
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机构:
FERMILAB,BATAVIA,IL
WITHERELL, MS
SOKOLOFF, MD
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h-index:
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机构:
FERMILAB,BATAVIA,IL
SOKOLOFF, MD
KIANG, A
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机构:
FERMILAB,BATAVIA,IL
KIANG, A
KUMAR, BR
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0
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h-index:
0
机构:
FERMILAB,BATAVIA,IL
KUMAR, BR
MARTIN, JF
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0
h-index:
0
机构:
FERMILAB,BATAVIA,IL
MARTIN, JF
SARABURA, M
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0
机构:
FERMILAB,BATAVIA,IL
SARABURA, M
机构
:
[1]
FERMILAB,BATAVIA,IL
[2]
UNIV TORONTO,TORONTO M5S 1A1,ONTARIO,CANADA
来源
:
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE
|
1985年
/ 32卷
/ 01期
关键词
:
D O I
:
10.1109/TNS.1985.4336907
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
摘要
:
引用
收藏
页码:612 / 615
页数:4
相关论文
共 3 条
[1]
HEIJNE E, 1983, UNPUB 3RD P S SEM DE
[2]
JARRON P, UNPUB 3RD P S SEM DE
[3]
FABRICATION OF LOW-NOISE SILICON RADIATION DETECTORS BY THE PLANAR PROCESS
KEMMER, J
论文数:
0
引用数:
0
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0
KEMMER, J
[J].
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS,
1980,
169
(03):
: 499
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[1]
HEIJNE E, 1983, UNPUB 3RD P S SEM DE
[2]
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[3]
FABRICATION OF LOW-NOISE SILICON RADIATION DETECTORS BY THE PLANAR PROCESS
KEMMER, J
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0
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KEMMER, J
[J].
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS,
1980,
169
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