MULTILAYER ANALYSIS OF ION-IMPLANTED GAAS USING SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY

被引:26
作者
ERMAN, M
THEETEN, JB
机构
关键词
D O I
10.1002/sia.740040305
中图分类号
O64 [物理化学(理论化学)、化学物理学];
学科分类号
070304 ; 081704 ;
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