HIGH-RESOLUTION IMAGING OF INHOMOGENEITIES IN SUPERCONDUCTING TUNNEL-JUNCTIONS BY SCANNING WITH A MODULATED ELECTRON-BEAM

被引：15

作者：

SEIFERT, H ^{[1
]}

HUEBENER, RP ^{[1
]}

EPPERLEIN, PW ^{[1
]}

机构：

[1] IBM CORP,RES LAB,CH-8803 RUSCHLIKON,SWITZERLAND

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0375-9601(83)90679-5

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

引用

页码：421 / 423

页数：3

共 5 条

CLEM, JR ;

HUEBENER, RP .

EPPERLEIN, PW ;

SEIFERT, H ;

HUEBENER, RP .

[3]

PAVLICEK H, 1982, UNPUB IEEE T MAG

SEIFERT, H .

SEIFERT, H ;

HUEBENER, RP ;

EPPERLEIN, PW .