SURFACE-ANALYSES BY LOW-ENERGY SEM IN ULTRA HIGH-VACUUM

被引：19

作者：

ICHINOKAWA, T

ISHIKAWA, Y

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0304-3991(84)90039-1

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：193 / 204

页数：12

共 7 条

ICHINOKAWA, T ;

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