TIE SET APPROACH TO DETERMINE FREQUENCY OF SYSTEM FAILURE

被引：11

作者：

SINGH, C ^{[1
]}

机构：

[1] MINIST TRANSPORTATION & COMMUN,TRANSIT SYST BRANCH,RES & DEV DIV,1201 WILSON AVE,EAST BLDG,DOWNSVIEW,ONTARIO,CANADA

来源：

MICROELECTRONICS AND RELIABILITY | 1975年 / 14卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1016/0026-2714(75)90705-2

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页数：2