ELECTRON TRAJECTORY TRACKING ALGORITHMS FOR ANALYZING VOLTAGE CONTRAST SIGNALS IN THE SCANNING ELECTRON-MICROSCOPE

被引：8

作者：

CHIM, WK

LOW, TS

CHAN, DSH

PHANG, JCH

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1088/0022-3727/21/1/001

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

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页数：9

共 6 条

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