A NEW METHOD FOR MATRIX CORRECTIONS BY RADIOISOTOPE EXCITED X-RAY-FLUORESCENCE

被引：14

作者：

HALLAK, AB

SALEH, NS

机构：

来源：

X-RAY SPECTROMETRY | 1983年 / 12卷 / 04期

关键词：

D O I：

10.1002/xrs.1300120405

中图分类号：

O433 [光谱学];

学科分类号：

0703 ; 070302 ;

摘要：

引用

收藏

页码：148 / 149

页数：2

相关论文

共 3 条

[1] TRACE-ELEMENT DETERMINATION WITH SEMICONDUCTOR DETECTOR X-RAY SPECTROMETERS [J].

GIAUQUE, RD ;

GOULDING, FS ;

JAKLEVIC, JM ;

PEHL, RH .

ANALYTICAL CHEMISTRY, 1973, 45 (04) :671-681

[2]

SPARKS CJ, 1976, ADV XRAY ANALYSIS, V19, P19

[3]

[No title captured]