THICKNESS VARIATION OF BREAKDOWN FIELD STRENGTH IN PLASMA OXIDIZED ALUMINUM FILMS

被引：25

作者：

NICOL, WS

机构：

来源：

PROCEEDINGS OF THE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS ENGINEERS | 1968年 / 56卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1109/PROC.1968.6178

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：109 / &

共 7 条

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