USE OF COINCIDENCE TECHNIQUES TO IMPROVE DETECTION LIMITS OF ELECTRON-SPECTROSCOPY IN STEM

被引：19

作者：

WITTRY, DB

机构：

[1] UNIV SO CALIF,DEPT MAT SCI,LOS ANGELES,CA 90007

[2] UNIV SO CALIF,DEPT ENGN,LOS ANGELES,CA 90007

来源：

ULTRAMICROSCOPY | 1976年 / 1卷 / 04期

关键词：

D O I：

10.1016/0304-3991(76)90047-4

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

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页码：297 / 300

页数：4

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共 5 条

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ISAACSON, M
JOHNSON, D
[J]. ULTRAMICROSCOPY, 1975, 1 (01) : 33 - 52
[2] Pines D, 1964, ELEMENTARY EXCITATIO
[3] VOREADES D, 1974, 32ND P ANN EL MICR S, P428
[4] VOREADES D, 1975, 33RD P ANN EMSA M LA, P100
[5] WITTRY DB, 1969, 5TH P INT C XRAY OPT, P206