CHARACTERIZATION OF SWIRL DEFECTS IN FLOATING-ZONE SILICON-CRYSTALS

被引：131

作者：

PETROFF, PM ^{[1
]}

DEKOCK, AJR ^{[1
]}

机构：

[1] BELL TEL LABS INC,MURRAY HILL,NJ 07974

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0022-0248(75)90210-9

中图分类号：

O7 [晶体学];

学科分类号：

0702 ; 070205 ; 0703 ; 080501 ;

摘要：

引用

页码：117 / 124

页数：8

共 18 条

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