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DISLOCATION VELOCITIES AND ELECTRONIC DOPING IN SILICON
被引:43
作者
:
KULKARNI, SB
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
UNIV ILLINOIS,DEPT MET,URBANA,IL 61801
KULKARNI, SB
WILLIAMS, WS
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
UNIV ILLINOIS,DEPT MET,URBANA,IL 61801
WILLIAMS, WS
机构
:
[1]
UNIV ILLINOIS,DEPT MET,URBANA,IL 61801
[2]
UNIV ILLINOIS,MAT RES LAB,URBANA,IL 61801
[3]
UNIV ILLINOIS,DEPT PHYS,URBANA,IL 61801
[4]
UNIV ILLINOIS,DEPT CERAMIC ENGN,URBANA,IL 61801
来源
:
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS
|
1976年
/ 47卷
/ 10期
关键词
:
D O I
:
10.1063/1.322433
中图分类号
:
O59 [应用物理学];
学科分类号
:
摘要
:
引用
收藏
页码:4318 / 4325
页数:8
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SHOCKLEY W, 1953, PHYS REV, V91, P228
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MOBILITY OF EDGE DISLOCATIONS IN SILICON-IRON CRYSTALS
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LOW, JR
[J].
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,
1960,
31
(02)
: 362
-
369
[33]
TEICHLER H, 1968, PHYS STAT SOL, V23, P341
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[31]
SHOCKLEY W, 1953, PHYS REV, V91, P228
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STEIN, DF
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