AN AUTOMATIC DATA ACQUISITION SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING

被引：4

作者：

BARTLING, DL

JENKINS, CR

GOBEN, CA

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/TIM.1968.4313659

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：19 / +

页数：1

共 13 条

[1]

BARTLING DL, 1967, THESIS U MISSOURI

GOBEN, CA .

[3]

GOBEN CA, TO BE PUBLISHED

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GOBEN CA, 1965, THESIS IOWA STATE U

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