THE EFFECT OF NON-ISOPLANATISM IN MICROGRAPHS TAKEN WITH AN ELECTRON-MICROSCOPE EQUIPPED WITH A FIELD-EMISSION GUN

被引：9

作者：

HANSZEN, KJ

LAUER, R

ADE, G

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/S0304-3991(85)80007-3

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：47 / 57

页数：11

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共 6 条

[1]

ADE G, 1982, OPTIK, V63, P43

[2]

ADE G, 1978, OPTIK, V50, P143

[3]

ADE G, 1973, PTB APH3 PHYS TECHN

[4]

HANSSEN KJ, 1972, OPTIK, V35, P567

[5]

HANSZEN KJ, 1983, PTB APH20 PHYS TECHN

ZEMLIN, F ;

WEISS, K ;

SCHISKE, P ;

KUNATH, W ;

HERRMANN, KH .