LINE NARROWING AND PHOTOELECTRON TRAPPING IN MULTIPHOTON IONIZATION SPECTROSCOPY

被引：13

作者：

DENG, Z

机构：

[1] Univ of Rochester, Dep of Physics, & Astronomy, Rochester, NY, USA, Univ of Rochester, Dep of Physics & Astronomy, Rochester, NY, USA

来源：

关键词：

D O I：

10.1364/JOSAB.1.000874

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

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页数：5