HIGH-FIELD SPECIFIC-HEAT AND SUSCEPTIBILITY MEASUREMENTS - RELEVANCE TO THE SPIN-PEIERLS PHASE-DIAGRAM AND THE VALIDITY OF A SOLITON PICTURE

被引:27
作者
BONNER, JC [1 ]
NORTHBY, JA [1 ]
JACOBS, IS [1 ]
INTERRANTE, LV [1 ]
机构
[1] GE, CORP RES & DEV, SCHENECTADY, NY 12301 USA
来源
PHYSICAL REVIEW B | 1987年 / 35卷 / 04期
关键词
D O I
10.1103/PhysRevB.35.1791
中图分类号
T [工业技术];
学科分类号
08 ;
摘要
引用
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页码:1791 / 1798
页数:8
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