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EXTREMELY UNIFORM THRESHOLD VOLTAGE DISTRIBUTION OF GAAS-FET MADE ON LEC-GROWN CRYSTALS
被引:5
作者
:
KASAHARA, J
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机构:
Sony Corp, Research Cent, Yokohama,, Jpn, Sony Corp, Research Cent, Yokohama, Jpn
KASAHARA, J
ARAI, M
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机构:
Sony Corp, Research Cent, Yokohama,, Jpn, Sony Corp, Research Cent, Yokohama, Jpn
ARAI, M
WATANABE, N
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机构:
Sony Corp, Research Cent, Yokohama,, Jpn, Sony Corp, Research Cent, Yokohama, Jpn
WATANABE, N
机构
:
[1]
Sony Corp, Research Cent, Yokohama,, Jpn, Sony Corp, Research Cent, Yokohama, Jpn
来源
:
ELECTRONICS LETTERS
|
1985年
/ 21卷
/ 22期
关键词
:
D O I
:
10.1049/el:19850738
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
摘要
:
2
引用
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页码:1040 / 1042
页数:3
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共 2 条
[1]
Lee R. E., 1984, GaAs IC Symposium Technical Digest 1984 (Cat. No. 84CH2065-1), P45
[2]
DIRECT OBSERVATION OF DISLOCATION EFFECTS ON THRESHOLD VOLTAGE OF A GAAS FIELD-EFFECT TRANSISTOR
[J].
MIYAZAWA, S
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MIYAZAWA, S
;
ISHII, Y
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ISHII, Y
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ISHIDA, S
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ISHIDA, S
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NANISHI, Y
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NANISHI, Y
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APPLIED PHYSICS LETTERS,
1983,
43
(09)
:853
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共 2 条
[1]
Lee R. E., 1984, GaAs IC Symposium Technical Digest 1984 (Cat. No. 84CH2065-1), P45
[2]
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MIYAZAWA, S
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MIYAZAWA, S
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ISHII, Y
;
ISHIDA, S
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ISHIDA, S
;
NANISHI, Y
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NANISHI, Y
.
APPLIED PHYSICS LETTERS,
1983,
43
(09)
:853
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