CRYSTALLOGRAPHIC SITE-OCCUPANCY REFINEMENTS IN THIN-FILM OXIDES BY CHANNELING-ENHANCED MICROANALYSIS

被引:32
作者
KRISHNAN, KM
REZ, P
THOMAS, G
机构
来源
ACTA CRYSTALLOGRAPHICA SECTION B-STRUCTURAL SCIENCE | 1985年 / 41卷 / DEC期
关键词
D O I
10.1107/S0108768185002361
中图分类号
O6 [化学];
学科分类号
0703 ;
摘要
引用
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页码:396 / 405
页数:10
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