DEFECTS AND DEFECT PROCESSES IN IONIC OXIDES - WHERE DO WE STAND TODAY

被引:76
作者
CRAWFORD, JH
机构
关键词
D O I
10.1016/0168-583X(84)90063-6
中图分类号
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号
0804 ; 080401 ; 081102 ;
摘要
引用
收藏
页码:159 / 165
页数:7
相关论文
共 37 条