RUTHERFORD BACKSCATTERING AND X-RAY PHOTOELECTRON-SPECTROSCOPY STUDIES OF DUAL ION-BEAM DEPOSITED ZIRCONIUM-OXIDE FILMS

被引：2

作者：

TANG, YS

CASTLE, JE

LIU, H

WATTS, JF

HUANG, NK

机构：

[1] UNIV SURREY,DEPT MAT SCI & ENGN,GUILDFORD GU2 5XH,SURREY,ENGLAND

[2] SICHUAN UNIV,INST NUCL SCI & TECHNOL,CHENGDU,PEOPLES R CHINA

来源：

PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLIED RESEARCH | 1990年 / 121卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1002/pssa.2211210155

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

[No abstract available]

引用

页码：K61 / K64

页数：4

共 6 条

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