DETECTION OF PATTERN-SENSITIVE FAULTS IN RANDOM-ACCESS MEMORIES

被引：59

作者：

HAYES, JP

机构：

[1] UNIV SO CALIF,DEPT ELECT ENGN,LOS ANGELES,CA 90007

[2] UNIV SO CALIF,COMP SCI PROGRAM,LOS ANGELES,CA

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS | 1975年 / C 24卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1109/T-C.1975.224182

中图分类号：

TP3 [计算技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

引用

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页码：150 / 157

页数：8

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