CHARACTERIZATION OF CRYSTAL DEFECTS AT LEAKAGE SITES IN CHARGE-COUPLED-DEVICES

被引：12

作者：

OGDEN, R ^{[1
]}

WILKINSON, JM ^{[1
]}

机构：

[1] PLESSEY CO LTD,ALLEN CLARK RES CTR,TOWCESTER,NORTHAMPTONSHIR,ENGLAND

来源：

JOURNAL OF APPLIED PHYSICS | 1977年 / 48卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1063/1.323343

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

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页码：412 / 414

页数：3

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共 12 条

[11] TANAKA K, 1974, FALL EL SOC M, P472
[12] EVALUATION OF DARK-CURRENT NONUNIFORMITY IN A CHARGE-COUPLED DEVICE
TANIKAWA, K
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