VACUUM SPECTROPHOTOMETER FOR SPECULAR REFLECTANCE MEASUREMENTS AT HIGH-TEMPERATURE - APPLICATION TO MONOCRYSTALLINE SILICON

被引：13

作者：

FRANCOIS, JC

CHASSAING, G

ARGEME, L

PIERRISNARD, R

机构：

[1] CNRS, Dep de Physique du Solide,, Marseilles, Fr, CNRS, Dep de Physique du Solide, Marseilles, Fr

来源：

JOURNAL OF OPTICS-NOUVELLE REVUE D OPTIQUE | 1985年 / 16卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1088/0150-536X/16/1/006

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

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页数：5

共 3 条