CONTRAST OF POLYCHROMATIC SPECKLE PATTERNS AND ITS DEPENDENCE ON SURFACE-ROUGHNESS

被引：67

作者：

PEDERSEN, HM ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV TRONDHEIM,NORWEGIAN INST TECHNOL,DEPT PHYS,TRONDHEIM,DENMARK

来源：

OPTICA ACTA | 1975年 / 22卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1080/713818954

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

页码：15 / 24

页数：10

共 11 条

[1] DISPLACEMENT MEASUREMENT FROM DOUBLE-EXPOSURE LASER PHOTOGRAPHS [J].

ARCHBOLD, E ;

ENNOS, AE .

OPTICA ACTA, 1972, 19 (04) :253-&

[2]

Beckmann P., 1963, SCATTERING ELECTROMA

[3]

BORN M, 1970, PRINCIPLES OPTICS

[4]

BURCH JM, 1969, OPTICAL INSTRUMENTS, P213

DAINTY, JC .

OPTICA ACTA, 1970, 17 (10) :761-&

[6]

GOLFISCHER LI, 1965, J OPT SOC AM, V55, P247

[7]

Goodman JW, 1963, STAT PROPERTIES LASE

[8]

MANDEL L, 1963, PROGRESS OPTICS, V2, P181

[9]

PARRY G, UNPUBLISHED WORK

[10]

SPRAGUE RA, 1972, APPL OPTICS, V11, P8811