ELECTRON-EMISSION FROM INSULATOR AND SEMICONDUCTOR SURFACES BY MULTIPHOTON EXCITATION BELOW THE OPTICAL-DAMAGE THRESHOLD

被引：34

作者：

SIEKHAUS, WJ

KINNEY, JH

MILAM, D

CHASE, LL

机构：

来源：

APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING | 1986年 / 39卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1007/BF00620730

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：163 / 166

页数：4

共 5 条

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