PATTERN-RECOGNITION USING ONE-DIMENSIONAL FOURIER TRANSFORMATION

被引：5

作者：

ALMI, LU ^{[1
]}

SHAMIR, J ^{[1
]}

机构：

[1] TECHNION ISRAEL INST TECHNOL,DEPT ELECT ENGN,HAIFA,ISRAEL

来源：

OPTICS COMMUNICATIONS | 1976年 / 18卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1016/0030-4018(76)90137-1

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

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页码：304 / 306

页数：3

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共 4 条

[1] PATTERN COMPARISON BY INTERFERENCE FRINGE SCANNING [J].

TSURUTA, T ;

ITOH, Y ;

SHIRASU, H .

APPLIED OPTICS, 1974, 13 (05) :1089-1092

[2]

ULMANN JR, 1974, OPTO ELECTRONICS, V6, P319

[3]

VANDERLUGT A, 1964, IEEE T INFORM THEORY, V10, P139

[4] INTERFERENCE METHOD FOR PATTERN COMPARISON [J].

WEINBERGER, H ;

ALMI, U .

APPLIED OPTICS, 1971, 10 (11) :2482-+