ANALYSIS OF THIN-FILMS OF DC-704 ON ALUMINUM, GERMANIUM, AND KRS-5 SURFACES BY IR REFLECTION SPECTROSCOPY

被引：5

作者：

HONEYCUTT, RH ^{[1
]}

WIGHTMAN, JP ^{[1
]}

机构：

[1] VIRGINIA POLYTECH INST & STATE UNIV,DEPT CHEM,BLACKSBURG,VA 24061

来源：

JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY | 1977年 / 14卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1116/1.569194

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：742 / 744

页数：3

共 19 条

[1]

BAURER T, 1970, SP336 NBS, P79

[2]

GILBY AC, 1970, APPL SPECTROS, V24, P535

GREENLER, RG .

[4]

Harrick N.J., 1967, INTERNAL REFLECTION

[5] DOUBLE-BEAM INTERNAL REFLECTION SPECTROMETER [J].

HARRICK, NJ .

APPLIED OPTICS, 1965, 4 (12) :1664-&

HARRICK, NJ .

[7]

HARRICK NJ, 1967, INTERNAL REFLECTION, P290

[8]

HEARST PJ, 1966, R449 NAV FAC ENG COM

[9]

Klier K., 1968, CATAL REV, V1, P207, DOI [10.1080/01614946808064704, DOI 10.1080/01614946808064704]

[10]

KRUGER R, 1972, SP298 NASA REP, P469