FEMTOSECOND TIME-RESOLVED REFLECTOMETRY MEASUREMENTS OF MULTIPLE-LAYER DIELECTRIC MIRRORS

被引：27

作者：

WEINER, AM

FUJIMOTO, JG

IPPEN, EP

机构：

[1] MIT,DEPT ELECT ENGN & COMP SCI,CAMBRIDGE,MA 02139

[2] MIT,ELECTR RES LAB,CAMBRIDGE,MA 02139

来源：

OPTICS LETTERS | 1985年 / 10卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1364/OL.10.000071

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

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共 11 条

[11]

WEINER AM, 1984, ULTRAFAST PHENOMENA, V4