MODELING THERMAL EFFECTS ON MOS IV CHARACTERISTICS

被引：36

作者：

SHARMA, DK

RAMANATHAN, KV

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/EDL.1983.25764

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：362 / 364

页数：3

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共 5 条

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