SURFACE-DENSITY MEASUREMENT OF PURE ELEMENT THIN-FILMS BY RADIOISOTOPE X-RAY-FLUORESCENCE SPECTROSCOPY

被引：4

作者：

SALEH, NS

HALLAK, AB

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1002/xrs.1300120409

中图分类号：

O433 [光谱学];

学科分类号：

0703 ; 070302 ;

摘要：

引用

页码：170 / 172

页数：3

共 4 条

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