REVIEW OF RELIABILITY IMPROVEMENTS OF GAA1AS LASER-DIODES

被引：2

作者：

EINHORN, AJ

BARRY, JD

机构：

来源：

MICROELECTRONICS AND RELIABILITY | 1982年 / 22卷 / 04期

关键词：

D O I：

10.1016/S0026-2714(82)80193-5

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：769 / 780

页数：12

共 14 条

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