EXPERIMENTAL EVALUATION OF BRIGHT AND DARK FIELD IMAGING MODES IN HIGH-VOLTAGE ELECTRON-MICROSCOPY

被引：2

作者：

BUTLER, EP ^{[1
]}

机构：

[1] IMPERIAL COLL SCI & TECHNOL,DEPT MET & MAT SCI,LONDON SW7 2BP,ENGLAND

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0047-7206(74)90005-3

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：293 / 305

页数：13

共 17 条

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