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SMALL AREA X-RAY PHOTOELECTRON-SPECTROSCOPY
被引:36
作者
:
YATES, K
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YATES, K
WEST, RH
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WEST, RH
机构
:
来源
:
SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS
|
1983年
/ 5卷
/ 05期
关键词
:
D O I
:
10.1002/sia.740050508
中图分类号
:
O64 [物理化学(理论化学)、化学物理学];
学科分类号
:
070304 ;
081704 ;
摘要
:
引用
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页码:217 / 221
页数:5
相关论文
共 3 条
[1]
IMAGING XPS - A NEW TECHNIQUE - PRINCIPLES
[J].
GURKER, N
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.
SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS,
1983,
5
(01)
:13
-19
[2]
SELECTED AREA X-RAY PHOTO-ELECTRON SPECTROSCOPY
[J].
KEAST, DJ
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机构:
GILLETTE RES & DEV LAB,READING,BERKSHIRE,ENGLAND
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;
DOWNING, KS
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GILLETTE RES & DEV LAB,READING,BERKSHIRE,ENGLAND
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DOWNING, KS
.
SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS,
1981,
3
(02)
:99
-101
[3]
Seah M. P., 1980, Surface and Interface Analysis, V2, P222, DOI 10.1002/sia.740020607
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[1]
IMAGING XPS - A NEW TECHNIQUE - PRINCIPLES
[J].
GURKER, N
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GURKER, N
;
EBEL, MF
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EBEL, H
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EBEL, H
.
SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS,
1983,
5
(01)
:13
-19
[2]
SELECTED AREA X-RAY PHOTO-ELECTRON SPECTROSCOPY
[J].
KEAST, DJ
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GILLETTE RES & DEV LAB,READING,BERKSHIRE,ENGLAND
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KEAST, DJ
;
DOWNING, KS
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DOWNING, KS
.
SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS,
1981,
3
(02)
:99
-101
[3]
Seah M. P., 1980, Surface and Interface Analysis, V2, P222, DOI 10.1002/sia.740020607
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