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A MODIFIED GOODMAN TECHNIQUE FOR OBTAINING ROCKING-BEAM TYPE PATTERNS
被引:3
作者
:
KANG, ZH
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
KANG, ZH
机构
:
来源
:
JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY TECHNIQUE
|
1986年
/ 4卷
/ 04期
关键词
:
D O I
:
10.1002/jemt.1060040404
中图分类号
:
Q [生物科学];
学科分类号
:
07 ;
0710 ;
09 ;
摘要
:
引用
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页码:343 / 346
页数:4
相关论文
共 2 条
[1]
GOODMAN P, 1980, SCANNING ELECTRON MI, V1, P53
[2]
A COMPARISON OF TECHNIQUES FOR OBTAINING CONVERGENT BEAM ELECTRON-DIFFRACTION PATTERNS WITH A JEOL-200CX
[J].
LEE, KC
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
CORNELL UNIV,NATL RES & RESOURCE FACIL SUBMICRON STRUCT,ITHACA,NY 14853
CORNELL UNIV,NATL RES & RESOURCE FACIL SUBMICRON STRUCT,ITHACA,NY 14853
LEE, KC
.
ULTRAMICROSCOPY,
1982,
10
(03)
:217
-222
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共 2 条
[1]
GOODMAN P, 1980, SCANNING ELECTRON MI, V1, P53
[2]
A COMPARISON OF TECHNIQUES FOR OBTAINING CONVERGENT BEAM ELECTRON-DIFFRACTION PATTERNS WITH A JEOL-200CX
[J].
LEE, KC
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0
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0
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机构:
CORNELL UNIV,NATL RES & RESOURCE FACIL SUBMICRON STRUCT,ITHACA,NY 14853
CORNELL UNIV,NATL RES & RESOURCE FACIL SUBMICRON STRUCT,ITHACA,NY 14853
LEE, KC
.
ULTRAMICROSCOPY,
1982,
10
(03)
:217
-222
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