THERMAL-OXIDATION OF HEAVILY PHOSPHORUS-DOPED THIN-FILMS OF POLYCRYSTALLINE SILICON

被引:28
作者
SARASWAT, KC
SINGH, H
机构
关键词
D O I
10.1149/1.2123503
中图分类号
O646 [电化学、电解、磁化学];
学科分类号
081704 ;
摘要
引用
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页码:2321 / 2326
页数:6
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共 21 条
[21]   GRAIN-GROWTH MECHANISM OF HEAVILY PHOSPHORUS-IMPLANTED POLYCRYSTALLINE SILICON [J].
WADA, Y ;
NISHIMATSU, S .
JOURNAL OF THE ELECTROCHEMICAL SOCIETY, 1978, 125 (09) :1499-1504