INTERFEROMETRIC MEASUREMENTS OF HIGH-TEMPERATURE OBJECTS BY ELECTRONIC SPECKLE PATTERN INTERFEROMETRY

被引：32

作者：

LOKBERG, OJ ^{[1
]}

MALMO, JT ^{[1
]}

SLETTEMOEN, GA ^{[1
]}

机构：

[1] FDN SCI & IND RES,N-7034 TRONDHEIM NTH,NORWAY

来源：

APPLIED OPTICS | 1985年 / 24卷 / 19期

关键词：

D O I：

10.1364/AO.24.003167

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

页码：3167 / 3172

页数：6

共 8 条

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