EXTERNAL BEAM TECHNIQUE FOR PROTON-INDUCED X-RAY-EMISSION ANALYSIS

被引：53

作者：

KATSANOS, A ^{[1
]}

XENOULIS, A ^{[1
]}

HADJIANTONIOU, A ^{[1
]}

FINK, RW ^{[1
]}

机构：

[1] NUCL RES CTR DEMOCRITOS,TANDEM ACCELERATORY LAB,ATHENS,GREECE

来源：

NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS | 1976年 / 137卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1016/0029-554X(76)90256-1

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：119 / 124

页数：6

共 5 条

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