USE OF CYLINDRICAL AUGER SPECTROMETERS FOR RETARDING POTENTIAL SECONDARY-ELECTRON YIELD MEASUREMENTS

被引：8

作者：

HENRICH, VE ^{[1
]}

机构：

[1] MIT,LINCOLN LAB,LEXINGTON,MA 02173

来源：

REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1974年 / 45卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1063/1.1686757

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

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页数：2

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共 2 条

[1] FAST, ACCURATE SECONDARY-ELECTRON YIELD MEASUREMENTS AT LOW PRIMARY ENERGIES
HENRICH, VE
[J]. REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 1973, 44 (04) : 456 - 462
[2] RIACH GE, PERSONAL COMMUNICATI