CONSIDERATIONS FOR SINGLE EVENT IMMUNE VLSI LOGIC

被引：36

作者：

DIEHL, SE ^{[1
]}

VINSON, JE ^{[1
]}

SHAFER, BD ^{[1
]}

MNICH, TM ^{[1
]}

机构：

[1] SANDIA NATL LABS,ALBUQUERQUE,NM 87185

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/TNS.1983.4333161

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：4501 / 4507

页数：7

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共 3 条

[1] SINGLE EVENT ERROR IMMUNE CMOS RAM [J].

ANDREWS, JL ;

SCHROEDER, JE ;

GINGERICH, BL ;

KOLASINSKI, WA ;

KOGA, R ;

DIEHL, SE .

DIEHL, SE ;

OCHOA, A ;

DRESSENDORFER, PV ;

KOGA, R ;

KOLASINSKI, WA .

[3]

MNICH TM, 1983 NSRE C