RADIATION HARDNESS OF A SILICON MESFET 4K X 1 SRAM

被引:7
作者
HOUSTON, TW [1 ]
HITE, LR [1 ]
DARLEY, HM [1 ]
SHEDD, WM [1 ]
ZUGICH, MH [1 ]
LAPIERRE, DC [1 ]
机构
[1] USAF,RADC,ESR,BEDFORD,MA 01731
关键词
D O I
10.1109/TNS.1984.4333534
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
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页码:1483 / 1486
页数:4
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共 1 条
[1]   TOTAL DOSE RADIATION EFFECTS ON SILICON MESFET CIRCUITS [J].
DARLEY, HM ;
HOUSTON, TW ;
HITE, LR .
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 1983, 30 (06) :4277-4281