COMPLETE CHARACTERIZATION OF THIN-FILM AND THICK-FILM MATERIALS USING WIDEBAND REFLECTION ACOUSTIC MICROSCOPY

被引：25

作者：

LEE, CC

TSAI, CS

CHENG, X

机构：

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON SONICS AND ULTRASONICS | 1985年 / 32卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1109/T-SU.1985.31591

中图分类号：

O42 [声学];

学科分类号：

070206 ; 082403 ;

摘要：

引用

页码：248 / 258

页数：11

共 26 条

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