MEASUREMENT OF HALL-MOBILITY IN N-CHANNEL SILICON INVERSION LAYER

被引：7

作者：

BRIGLIO, DR ^{[1
]}

NATHAN, A ^{[1
]}

BALTES, HP ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV ALBERTA,ALBERTA MICROELECTR CTR,EDMONTON T6G 2G7,ALBERTA,CANADA

来源：

CANADIAN JOURNAL OF PHYSICS | 1987年 / 65卷 / 08期

关键词：

D O I：

10.1139/p87-128

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

13

引用

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页码：842 / 845

页数：4

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共 13 条

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