GATE-VOLTAGE-DEPENDENT TRANSPORT MEASUREMENTS ON HETEROSTRUCTURE FIELD-EFFECT TRANSISTORS

被引:7
作者
PROST, W
BROCKERHOFF, W
HEIME, K
PLOOG, K
SCHLAPP, W
WEIMANN, G
MORKOC, H
机构
[1] DEUTSCH BUNDESPOST,FORSCH INST,D-6100 DARMSTADT,FED REP GER
[2] MAX PLANCK INST FESTKORPERFORSCH,D-7000 STUTTGART 80,FED REP GER
[3] UNIV ILLINOIS,COORDINATED SCI LAB,URBANA,IL 61801
关键词
D O I
10.1109/T-ED.1986.22546
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
引用
收藏
页码:646 / 650
页数:5
相关论文
共 16 条