DEPTH PROFILE DETERMINATION BY ION-INDUCED X-RAY SPECTROSCOPY

被引：33

作者：

PABST, W ^{[1
]}

机构：

[1] TECH UNIV MUNICH,LEHRSTUHL INTEGRIERTE SCHALTUNGEN,MUNICH,WEST GERMANY

来源：

NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS | 1974年 / 120卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1016/0029-554X(74)90028-7

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：543 / 545

页数：3

共 6 条