A COMPARATIVE RUTHERFORD BACKSCATTERING SPECTROMETRY AND AUGER-ELECTRON SPECTROSCOPY DEPTH PROFILE STUDY OF FE-N FILMS

被引：1

作者：

DERUGY, H

LANGERON, JP

BOUQUET, S

MINEL, L

GRIGOROV, GI

MARTEV, IN

机构：

[1] CNRS,CTR ETUD CHIM MET,F-94400 VITRY SUR SEINE,FRANCE

[2] BULGARIAN ACAD SCI,INST ELECTR,BU-1784 SOFIA,BULGARIA

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0040-6090(88)90269-6

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：L69 / L70

页数：2