STUDY OF THE THICKNESS OF LIQUID LAYERS BY MOIRE DEFLECTOMETRY

被引：17

作者：

YOGEV, D ^{[1
]}

EFRIMA, S ^{[1
]}

KAFRI, O ^{[1
]}

机构：

[1] ROTLEX OPT LTD,BEER SHEVA,ISRAEL

来源：

OPTICS LETTERS | 1988年 / 13卷 / 10期

关键词：

D O I：

10.1364/OL.13.000934

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

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页码：934 / 936

页数：3

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共 4 条

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