HIGH-SENSITIVITY REFLECTION-TRANSMISSION MOIRE DEFLECTOMETER

被引：16

作者：

KAFRI, O

GLATT, I

机构：

来源：

APPLIED OPTICS | 1988年 / 27卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1364/AO.27.000351

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

页码：351 / 353

页数：3

共 5 条

[1]

KAFRI O, 1985, APPL OPTICS, V24, P2746

[2] NONCOHERENT METHOD FOR MAPPING PHASE OBJECTS [J].

KAFRI, O .

KAFRI, O ;

GLATT, I .

[4] REFLECTIVE SURFACE-ANALYSIS USING MOIRE DEFLECTOMETRY [J].

KAFRI, O ;

LIVNAT, A .

APPLIED OPTICS, 1981, 20 (18) :3098-3100

[5] PHASE OBJECT MICROSCOPY USING MOIRE DEFLECTOMETRY [J].

KRASINSKI, J ;

HELLER, DF ;

KAFRI, O .

APPLIED OPTICS, 1985, 24 (18) :3032-3036