INFLUENCE OF ELECTRONIC LIFETIME ON LATTICE INSTABILITY OF V3SI

被引：31

作者：

WILLIAMSON, SJ ^{[1
]}

TING, CS ^{[1
]}

FUNG, HK ^{[1
]}

机构：

[1] NYU, DEPT PHYS, NEW YORK, NY 10003 USA

来源：

关键词：

D O I：

10.1103/PhysRevLett.32.9

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

引用

页码：9 / 12

页数：4

共 18 条

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