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MICROSTRUCTURE OF GRAPPE DEFECTS IN INP
被引:12
作者
:
AUGUSTUS, PD
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AUGUSTUS, PD
STIRLAND, DJ
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STIRLAND, DJ
YATES, M
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YATES, M
机构
:
来源
:
JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH
|
1983年
/ 64卷
/ 01期
关键词
:
D O I
:
10.1016/0022-0248(83)90258-0
中图分类号
:
O7 [晶体学];
学科分类号
:
0702 ;
070205 ;
0703 ;
080501 ;
摘要
:
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页码:121 / 128
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相关论文
共 13 条
[11]
CHARACTERIZATION OF DEFECTS IN INP SUBSTRATES
STIRLAND, DJ
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机构:
BRITISH TELECOM RES LABS,IPSWICH IP5 7RE,ENGLAND
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STIRLAND, DJ
HART, DG
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BRITISH TELECOM RES LABS,IPSWICH IP5 7RE,ENGLAND
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HART, DG
CLARK, S
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BRITISH TELECOM RES LABS,IPSWICH IP5 7RE,ENGLAND
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CLARK, S
REGNAULT, JC
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BRITISH TELECOM RES LABS,IPSWICH IP5 7RE,ENGLAND
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REGNAULT, JC
ELLIOTT, CR
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BRITISH TELECOM RES LABS,IPSWICH IP5 7RE,ENGLAND
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ELLIOTT, CR
[J].
JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH,
1983,
61
(03)
: 645
-
657
[12]
TAN TY, 1975, PHIL MAG, V34, P619
[13]
TAN TY, 1979, IBM TR190346 TECH RE
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CHARACTERIZATION OF DEFECTS IN INP SUBSTRATES
STIRLAND, DJ
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BRITISH TELECOM RES LABS,IPSWICH IP5 7RE,ENGLAND
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STIRLAND, DJ
HART, DG
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HART, DG
CLARK, S
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ELLIOTT, CR
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ELLIOTT, CR
[J].
JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH,
1983,
61
(03)
: 645
-
657
[12]
TAN TY, 1975, PHIL MAG, V34, P619
[13]
TAN TY, 1979, IBM TR190346 TECH RE
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