EXPERIMENTAL-DETERMINATION OF SINGLE-EVENT UPSET (SEU) AS A FUNCTION OF COLLECTED CHARGE IN BIPOLAR INTEGRATED-CIRCUITS

被引：13

作者：

ZOUTENDYK, JA

MALONE, CJ

SMITH, LS

机构：

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE | 1984年 / 31卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1109/TNS.1984.4333476

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：1167 / 1174

页数：8

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共 5 条

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IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 1983, 30 (06) :4540-4545